Tools

Berekent reflectie en transmissie van een willekeurige optische multilaagstack via de karakteristieke-matrix (transfer-matrix) methode.

Transfer Matrix Method — R(λ), T(λ), A(λ) for multilayer stacks

Extract refractive index n(λ), extinction coefficient k(λ), and physical thickness d from a coated-film transmission spectrum plus a bare-substrate reference, including a closed-form low-index (n < s) branch derived in-house for porous-silica LRI coatings.

Envelope method — n(λ), k(λ), d from T-spectra; HRI + in-house LRI branch

Simulate per-layer thickness and refractive-index variations across thousands of samples to see how your stack design behaves under realistic production tolerances.

Manufacturing-tolerance Monte Carlo — ±σ bands, worst-case, yield-at-spec

See which layer in your thin-film stack drives wavelength-resolved reflectance sensitivity.

Per-layer dR/dd, dR/dn via finite differences; tolerance-budget allocation

Berekent de envelop van totale interne reflectie, de hoekbandbreedte van een inkoppelrooster en het resulterende gezichtsveld voor een vlakke optische golfgeleider.

TIR envelope, grating coupling bandwidth, mono/achromatic FOV

Vindt voor een opgegeven doelgolflengteband de laagdiktes die de gemiddelde reflectie minimaliseren, gebruikmakend van de Kriya-materialenbibliotheek.

Differential evolution optimiser over TMM forward model

Ontwerp een polarisatie-onafhankelijke transmissieve metalens: genereer de radiale fasekaart, suggereer nanopilaarsteek en voorspel de MTF in het focale vlak.

Hyperbolic phase profile, nanopillar pitch map, focal-plane MTF

Berekent de heen-en-weer transmissieverbetering van een Kriya AR-coating op een LIDAR-afdekvenster bij 905, 940 of 1550 nm.

Double-pass transmission gain at 905/940/1550 nm

Berekent voor een gegeven beglazingopbouw en ATO-nanodeeltjesbelading de SHGC, VLT, voorspelde cabinetemperatuurreductie, AC-energieafname en — voor BEV's — de bereikimpact.

SHGC, VLT, cabin ΔT, AC demand, BEV range impact via ATO loading

Schat de externe kwantumefficiëntiewinst van het toevoegen van een Kriya-extractie- / indexaanpassingslaag boven de emissielaag.

EQE gain from index-matching extraction layer (ray-optics / CPS dipole)

Interactieve Fresnel-vergelijkingen: reflectie en fase voor s-/p-polarisatie aan een enkel grensvlak, inclusief absorberende media.

R_s, R_p, phase vs angle for real/complex interface

Brewster-hoek en pseudo-Brewster-minimum voor elk grensvlak — polarisatie-discriminatie, complexe brekingsindex, kritische-hoek-regime, AR-ontwerp-context.

Brewster + pseudo-Brewster angle, polarisation discrimination, critical-angle regime

Kwantificeert de hoekafhankelijke kleurverschuiving ('regenboog') van een multilaagstack zoals waargenomen door een menselijke waarnemer, via CIE-colorimetrie.

CIE 1976 u'v' rainbow index, ΔE₀₀ across angle set

Schat de patroonnauwkeurigheid na uitharding voor een nano-imprintlitografieproces met een gegeven Kriya-hars en doelgeometrie.

Post-cure shrinkage, aspect-ratio stability, feature-width limits

Controleert wereldwijd de regulatoire status van een formuleringsklasse tegen actuele PFAS-beperkingen, met monitoring van uitfaseringsdata.

Global PFAS restriction status per formulation class, sunset tracking

Vergelijkt de totale eigendomskosten per m² coating tussen sputter-, opdamp-, natchemisch slot-die-, gravure- en Kriya R2R-processen.

Cost/m² comparison: sputter vs evaporation vs wet-chemical vs R2R

2D straaltracering door een vlakke golfgeleider: visualiseer inkoppeling, TIR-reflecties, pupilreplicatie en uitkoppeling. Zie real-time hoe kern-RI de eye-box-grootte beïnvloedt.

2D ray trace: in-coupler → TIR bounces → out-coupler, eye-box uniformity

Modelleer een 3-kleuren (R/G/B) golfgeleiderstack met aparte golfgeleiderlagen, verschillende roosterperiodes en gedeelde mantel. Bereken FOV per kanaal en interlaag-overspraak.

3-channel RGB waveguide stack: per-channel FOV, cross-talk, cladding design

Monte-Carlo straaltracering binnen een OLED- of microLED-stack: emit willekeurige stralen vanuit een dipoolbron, traceer door lagen met TIR en breking, tel wat ontsnapt.

Monte Carlo 2D ray trace: dipole emission, TIR, extraction efficiency vs RI

Simuleer randgeïllumineerde backlights: straalpropagatie door een lichtgeleidplaat met extractiekenmerken, met berekening van luminantie-uniformiteit over het paneel.

Edge-lit light guide: ray propagation, extraction features, luminance uniformity

Ontwerp lage-brekingsindex coatings vanuit eerste principes: holle-bol-nanodeeltjegeometrie (schildikte, diameter, pakkingdichtheid) bepaalt de effectieve RI via tweelaagse effectieve-mediumtheorie.

Hollow-sphere geometry → RI via two-level Maxwell-Garnett effective medium

Zet een doel-droge-filmdikte om in natte coatingverbruik, kg-dekking en €/m²-kosten. Voeg rolgeometrie toe om maandelijkse vraag en minimumorder te bepalen.

Coverage (m²/kg), €/m², per-roll consumption from price, dry thickness, geometry

Schat droge filmdikte, volumeverlies en dichtheidstoename-factor uit uithardingskrimp van de gekozen chemiefamilie.

Predict dry thickness, volume loss, and density rise from cure shrinkage.

Vertaalt de pot-life op het datasheet bij een referentietemperatuur naar het realistische werkvenster bij de huidige werkplaatstemperatuur via Arrhenius-kinetiek.

Convert datasheet pot life across temperatures with Arrhenius kinetics.

Controleert of ovenlengte, lijnsnelheid en temperatuur de natte film genoeg verblijftijd geven om te drogen, en signaleert onderuitharding wanneer verblijftijd onder de diffusieschatting daalt.

Compare oven dwell to a thickness-based drying-time estimate.

Voorspelt natte filmdikte uit applicatorinstellingen: Mayer-bar, slot-die, gravure of spincoaten.

Predict wet film thickness from Mayer, slot-die, gravure, or spin settings.

Bepaal veilige baanspanning voor dunne polymeerfilms en aluminiumfolie uit substraattreksterkte, dwarsdoorsnede en een gekozen veiligheidsfactor.

Calculate safe web tension from substrate strength, geometry, and safety factor.

Vindt de vijf Kriya-producten die het dichtst overeenkomen met een functie/substraat/toepassing/RI-spec.

Match a function/substrate/application spec to the Kriya catalogue.

Configureer een monstermatrix (product, substraat, dikte, plaatgrootte, aantal) voordat je contact opneemt met sales.

Build a Kriya sample request matrix in 30 seconds.

Bouw een naast-elkaar-vergelijking van maximaal drie Kriya-producten plus aangepaste alternatieven, exporteerbaar als Markdown.

Compare Kriya products against custom alternatives, export Markdown.

Genereer een afdrukbare Technical Data Sheet-preview voor elk Kriya-product.

Generate a printable TDS preview from any Kriya product.

Modelleer de financiële business case voor een Kriya-pilot — cumulatieve besparingen, break-even en 12-maands ROI.

Pilot ROI: cumulative savings, breakeven, 12-month projected ROI.

Triage lamp/foto-initiator-combinaties op spectrale overlap voorafgaand aan formulering.

Match lamp emission peaks against photoinitiator absorption to rule out poor combinations early.

Voorspelt suspensieviscositeit en stromingsregime uit vastestofbelasting.

Krieger–Dougherty estimate of relative viscosity, absolute viscosity, and flow regime from solids loading.

Triage coatingdefecten naar gerangschikte hoofdoorzaken en corrigerende acties.

Pick a defect, see the three most likely root causes with priors and concrete next-step actions.

Map een doelglans bij 60° naar een AG-kwaliteit met verwachte haze, helderheid en DOI.

Pick AG grade by target gloss with predicted haze, clarity, and DOI.

Begrens langetermijn-Δb*-vergeling voor een substraat- en stabilisatorstrategie.

Square-root dose estimate of Δb* yellowing from substrate, UV exposure, and stabiliser package.

Markeer Artikel 33-meldplichten vanuit een coating bill of materials.

ECHA SVHC Candidate List screen for Article 33 communication.

Schat jaarlijkse VOC-emissies en vergelijk met EU IED-drempels.

Annual VOC tonnage with EU IED 2010/75/EU benchmark.

Pak slit-rolorders in zo min mogelijk masterrollen.

First-Fit-Decreasing slit packing across master rolls.

Zet bruto rolgeometrie om in netto verzendbaar oppervlak.

Net-area yield with four-bucket loss attribution.

Aggregeer multilaagse filmmetrieken vanuit een laag-stuklijst.

Multi-layer film thickness, weight, transmission, mean RI.

Voorspelt de effectieve brekingsindex van composiet- of poreuze coatings via drie klassieke mengregels.

Composite & porous coating index from constituents and volume fraction.

Kies de optimale indexaanpassende laag tussen dekglas en de displaypaneel-polarizerstack.

Index-match cover glass to display panel — RI bucket → Kriya family.

Ontwerp een kwart-golf HRI/LRI dichroïsche stack voor een gekozen IR- of zichtbare cutoff.

Quarter-wave HL stack: pairs, layer thicknesses, total thickness for IR/visible cutoff.

Schat stress-geïnduceerde Δn en optische retardantie in polymeerfilms.

Stress-optic Δn and retardance for PET/TAC/PMMA/PC films.

Dimensioneer louvre-geometrie voor privacy- of bestuurder-attentiefilters.

Louvre height, aspect, and transmission for a target privacy angle.

Fit n(λ), k(λ) en d uit spectroscopische ellipsometrie Ψ, Δ-data. Single- of multi-angle. Cauchy + Urbach dispersiemodel.

Cauchy + Urbach dispersion fit to Ψ, Δ; single- or multi-angle

Differential-evolution-optimiser met N onafhankelijke targetbanden: AR + spiegel + notch tegelijk, elk apart gewogen.

DE/rand/1/bin over N independent target bands; AR + mirror + notch

Spectrale fase, groepsvertraging en group-delay dispersie van multilayer coatings. Voor ultrakort-puls spiegels en breedband AR op laser-systemen.

φ(λ), group delay, GDD from complex r/t amplitude; phase unwrapped

Identificeer een onbekende stack uit gemeten T(λ) en/of R(λ). Differential evolution over een door jou gekozen materialen-palet; top-3 kandidaat-stacks.

DE search over candidate-material palette + N layers; top-3 stacks

Bereken de equibiaxiale filmspanning uit een gemeten substraatkromming, of voorspel de waferbuiging voor een doel-spanning. 12 substraatmaterialen.

σ_f = E·t_s²/(6(1−ν)·t_f·R); 12 substrates; σ↔R bidirectional