Coating Stack Designer

Ontwerp meerlaagse Anti-reflective coating stacks met behulp van Kriya's PFAS-free nanopartikelplatform. Bekijk live Reflectance- en Transmittance-spectra berekend via de Transfer Matrix Method.

Vooraf ingestelde configuraties

Substraat

De brekingsindex van polymeren varieert met kristalliniteit, rekverhouding en golflengte (bijv. PET 1,57–1,66, PC 1,58–1,59). De standaardwaarden zijn Kriya-consensuswaarden voor gangbare semikristallijne kwaliteiten. GebruikAangepastom uw eigen gemeten n in te voeren.

Coatinglagen(van boven naar beneden)

1. LRI
2. HRI

Laag toevoegen:

Dwarsdoorsnede stapel

Air (n=1.00)LRI n=1,25 110 nmHRI n=1,80 15 nmGlas (BK7) n=1,52
Gem. reflectie (380–780 nm)0,33%
Visible light transmittance99,7%
Min. R0,036%@ 490 nm
Gereflecteerde kleur

Reflectance-spectrum (TMM)

0%1%2%3%4%400500550600700Golflengte (nm)Reflectance (%)

Transmittance-spectrum

96%97%98%99%100%Golflengte (nm)Transmittance (%)

Methodologie

Volledige Transfer Matrix Method (TMM) bij loodrechte inval. Elke laag draagt een 2×2 karakteristieke matrix M bij met fasedikte δ = 2πnd/λ. De totale systeemmatrix is het geordende product van alle laagmatrices. Reflectance R = |r|² wordt afgeleid uit de Fresnel reflection-coëfficiënt. Substraatdispersie volgt het Cauchy-model: n(λ) = A + B/λ² + C/λ⁴. Niet-absorberende diëlektrische benadering (T = 1 − R). Fotopisch gewogen middeling maakt gebruik van de CIE V(λ) lichtsterktefunctie.

Modelbeperkingen

  • —Brekingsindices van coatings zijn nominale waarden bij 550 nm. Werkelijke Cauchy equation-dispersiecoëfficiënten zijn verkrijgbaar bij Kriya.
  • —Uitsluitend loodrechte inval (θ = 0°). Gebruik voor schuin invallende Anti-reflective-ontwerpen de TMM Simulator.
  • —Niet-absorberend diëlektrisch model (k=0). UV-absorptie nabij de bandrand wordt niet meegenomen.
  • —Substraatdispersie gebruikt het Cauchy model; coatinglagen gebruiken een constante Refractive index.

Voor productiekritische berekeningen neemt u contact op met Kriya Materials met uw specifieke vereisten. Wij leveren gemeten optische gegevens en gevalideerde simulatieondersteuning.