Swanepoel 包絡線分析儀
從鍍膜薄膜穿透光譜及裸基板參考光譜中提取折射率 n(λ)、消光係數 k(λ) 與物理厚度 d，包含本司針對多孔二氧化矽 LRI 鍍膜所推導之封閉式低折射率（n < s）分支。
驗證：人工核對範例 → /validation#swanepoel
匯入兩組穿透光譜（裸基板與鍍膜薄膜），工具即可利用 Swanepoel 包絡線法提取薄膜與基板的 Cauchy 色散、物理厚度 d 及消光係數。支援標準高折射率區（n > s）及教科書 Swanepoel 公式失效的低折射率（LRI）區。科學核心為 Python 參考實作的 TypeScript 移植版，跨語言一致性於每次 CI 執行時強制驗證。