Tools

使用特徵矩陣(傳輸矩陣)方法計算任意多層光學疊層的反射率與透射率。

Transfer Matrix Method — R(λ), T(λ), A(λ) for multilayer stacks

Extract refractive index n(λ), extinction coefficient k(λ), and physical thickness d from a coated-film transmission spectrum plus a bare-substrate reference, including a closed-form low-index (n < s) branch derived in-house for porous-silica LRI coatings.

Envelope method — n(λ), k(λ), d from T-spectra; HRI + in-house LRI branch

Simulate per-layer thickness and refractive-index variations across thousands of samples to see how your stack design behaves under realistic production tolerances.

Manufacturing-tolerance Monte Carlo — ±σ bands, worst-case, yield-at-spec

See which layer in your thin-film stack drives wavelength-resolved reflectance sensitivity.

Per-layer dR/dd, dR/dn via finite differences; tolerance-budget allocation

計算平面光學波導的全反射包絡、入耦合光柵的角度頻寬,以及由此得到的視場角。

TIR envelope, grating coupling bandwidth, mono/achromatic FOV

針對目標波長範圍,基於 Kriya 材料庫找出使平均反射率最小的各層厚度。

Differential evolution optimiser over TMM forward model

設計偏振無關的透射式超透鏡:生成徑向相點陣圖、給出奈米柱間距建議、預測焦平面 MTF。

Hyperbolic phase profile, nanopillar pitch map, focal-plane MTF

計算在 905、940 或 1550 nm 處為 LIDAR 視窗加上 Kriya AR 塗層後的往返透射增益。

Double-pass transmission gain at 905/940/1550 nm

給定玻璃構造和 ATO 奈米顆粒載量,計算 SHGC、VLT、預期車廂溫度下降、空調能耗下降,以及對於 BEV 的續航影響。

SHGC, VLT, cabin ΔT, AC demand, BEV range impact via ATO loading

估算在發光層之上加入 Kriya 提取/折射率匹配層後的外部量子效率提升。

EQE gain from index-matching extraction layer (ray-optics / CPS dipole)

互動式 Fresnel 方程:在含吸收介質的單一介面上,給出 s/p 偏振的反射率與相位。

R_s, R_p, phase vs angle for real/complex interface

任意介面的布儒斯特角和偽布儒斯特極小值 — 偏振判別、復折射率、臨界角範圍、AR設計背景。

Brewster + pseudo-Brewster angle, polarisation discrimination, critical-angle regime

透過 CIE 色度學,量化人眼觀察者所感知的多層疊層隨角度的顏色偏移("彩虹")。

CIE 1976 u'v' rainbow index, ΔE₀₀ across angle set

對給定 Kriya 樹脂與目標幾何的奈米壓印工藝,估算固化後的形貌精度。

Post-cure shrinkage, aspect-ratio stability, feature-width limits

對照全球當前的 PFAS 限制,核查某一配方類別的法規狀態,並跟蹤截止日期。

Global PFAS restriction status per formulation class, sunset tracking

在濺射、蒸鍍、溼法狹縫擠塗、凹版和 Kriya R2R 等工藝之間比較每平方米塗覆面積的總擁有成本。

Cost/m² comparison: sputter vs evaporation vs wet-chemical vs R2R

透過平面波導的二維光線追跡:視覺化入耦合、TIR 反射、出瞳複製與出耦合。實時觀察芯層折射率對眼盒尺寸的影響。

2D ray trace: in-coupler → TIR bounces → out-coupler, eye-box uniformity

建模具有獨立波導層、不同光柵週期與共享包層的三色(R/G/B)波導疊層。計算每通道 FOV 與層間串擾。

3-channel RGB waveguide stack: per-channel FOV, cross-talk, cladding design

在 OLED 或 microLED 疊層內進行蒙特卡洛光線追跡:從偶極源發射隨機光線,經過具有 TIR 與折射的各層並統計逃逸的光線。

Monte Carlo 2D ray trace: dipole emission, TIR, extraction efficiency vs RI

模擬側入式背光照明:光線穿過含有提取結構的導光板,計算面板的亮度均勻性。

Edge-lit light guide: ray propagation, extraction features, luminance uniformity

從第一原理出發設計低折射率塗層:中空奈米顆粒的幾何引數(殼厚、直徑、堆積密度)透過兩級有效介質理論決定有效折射率。

Hollow-sphere geometry → RI via two-level Maxwell-Garnett effective medium

將幹膜厚目標轉換為溼塗層消耗量、kg 覆蓋率與 €/m² 成本。結合卷材幾何即可估算月度需求與最低訂貨量。

Coverage (m²/kg), €/m², per-roll consumption from price, dry thickness, geometry

由所選化學體系的固化收縮,估算幹膜厚、體積損失與密度增加因子。

Predict dry thickness, volume loss, and density rise from cure shrinkage.

使用 Arrhenius 動力學,將技術規格書在參考溫度下的適用期換算為當前車間溫度下的實際工作視窗。

Convert datasheet pot life across temperatures with Arrhenius kinetics.

檢查烘箱長度、線速與溫度是否給溼膜留出足夠的停留時間,當停留時間低於擴散估算時標記欠固化。

Compare oven dwell to a thickness-based drying-time estimate.

由塗布器設定預測溼膜厚:Mayer 棒、狹縫擠塗、凹版或旋塗。

Predict wet film thickness from Mayer, slot-die, gravure, or spin settings.

依據基材抗拉強度、截面與所選安全係數,設定薄聚合物薄膜與鋁箔的安全卷材張力。

Calculate safe web tension from substrate strength, geometry, and safety factor.

根據功能/基材/應用/折射率規格,找出最匹配的五款 Kriya 產品。

Match a function/substrate/application spec to the Kriya catalogue.

在聯絡銷售之前配置好樣品矩陣(產品、基材、厚度、板尺寸、數量)。

Build a Kriya sample request matrix in 30 seconds.

構建至多三款 Kriya 產品與自定義替代品的並列對比,並支援 Markdown 匯出。

Compare Kriya products against custom alternatives, export Markdown.

為任意 Kriya 產品生成可列印的技術資料手冊預覽。

Generate a printable TDS preview from any Kriya product.

為 Kriya 試點建模財務方案——累計節省、盈虧平衡與 12 個月 ROI。

Pilot ROI: cumulative savings, breakeven, 12-month projected ROI.

在配方前依據光譜重疊對燈/光引發劑組合進行分流。

Match lamp emission peaks against photoinitiator absorption to rule out poor combinations early.

由固含量預測懸浮液粘度與流動狀態。

Krieger–Dougherty estimate of relative viscosity, absolute viscosity, and flow regime from solids loading.

將塗層缺陷分流到排序後的根本原因與糾正措施。

Pick a defect, see the three most likely root causes with priors and concrete next-step actions.

將 60° 目標光澤對映到具有預期霧度、清晰度與 DOI 的 AG 等級。

Pick AG grade by target gloss with predicted haze, clarity, and DOI.

針對基材與穩定劑策略,圈定長期 Δb* 黃變範圍。

Square-root dose estimate of Δb* yellowing from substrate, UV exposure, and stabiliser package.

依據塗層物料清單標記 Article 33 資訊傳遞義務。

ECHA SVHC Candidate List screen for Article 33 communication.

估算年度 VOC 排放並與 EU IED 閾值進行對比。

Annual VOC tonnage with EU IED 2010/75/EU benchmark.

將分切卷訂單裝入儘量少的母卷。

First-Fit-Decreasing slit packing across master rolls.

將毛卷材幾何換算為淨可發貨面積。

Net-area yield with four-bucket loss attribution.

由層級物料清單彙總多層薄膜指標。

Multi-layer film thickness, weight, transmission, mean RI.

用三種經典混合規則預測複合或多孔塗層的有效折射率。

Composite & porous coating index from constituents and volume fraction.

在蓋板玻璃與顯示面板偏光疊層之間選擇最優折射率匹配層。

Index-match cover glass to display panel — RI bucket → Kriya family.

為選定的 IR 或可見光截止波長設計四分之一波長 HRI/LRI 二色疊層。

Quarter-wave HL stack: pairs, layer thicknesses, total thickness for IR/visible cutoff.

估算聚合物薄膜中應力誘導的 Δn 與光學遲滯。

Stress-optic Δn and retardance for PET/TAC/PMMA/PC films.

為防窺或駕駛員注意力濾光器調整葉片幾何尺寸。

Louvre height, aspect, and transmission for a target privacy angle.

從光譜橢偏儀Ψ、Δ資料擬合n(λ)、k(λ)和d。單角度或多角度。Cauchy + Urbach色散模型。

Cauchy + Urbach dispersion fit to Ψ, Δ; single- or multi-angle

具有N個獨立目標帶的差分進化最佳化器：AR + 反射鏡 + 陷波同時進行，每個獨立加權。

DE/rand/1/bin over N independent target bands; AR + mirror + notch

多層塗層的光譜相位、群延遲和群延遲色散。適用於超短脈衝反射鏡和鐳射系統寬頻AR塗層。

φ(λ), group delay, GDD from complex r/t amplitude; phase unwrapped

從測量的T(λ)和/或R(λ)識別未知堆疊。在使用者定義的材料調色盤上進行差分進化；前3名候選堆疊。

DE search over candidate-material palette + N layers; top-3 stacks

從測量的基板曲率計算薄膜等雙軸應力，或預測目標應力下的晶圓翹曲。12種基板材料。

σ_f = E·t_s²/(6(1−ν)·t_f·R); 12 substrates; σ↔R bidirectional