Tools

חשב החזרה ומעבר של מארז אופטי רב-שכבתי שרירותי באמצעות שיטת המטריצה האופיינית (transfer-matrix).

Transfer Matrix Method — R(λ), T(λ), A(λ) for multilayer stacks

חלץ מקדם שבירה n(λ), מקדם דעיכה k(λ) ועובי פיזי d מספקטרום מעבר של סרט מצופה בתוספת ייחוס מצע חשוף, כולל ענף נמוך-מקדם (n < s) בצורה סגורה שנגזר פנימית לציפויי LRI silica נקבובית.

Envelope method — n(λ), k(λ), d from T-spectra; HRI + in-house LRI branch

סימולציית שונות עובי ומקדם שבירה לשכבה על פני אלפי דגימות כדי לראות כיצד תכנון המארז שלך מתנהג תחת סבילויות ייצור מציאותיות.

Manufacturing-tolerance Monte Carlo — ±σ bands, worst-case, yield-at-spec

ראה איזו שכבה במארז הסרט הדק שלך מניעה רגישות החזרה מרולוציה של אורך גל.

Per-layer dR/dd, dR/dn via finite differences; tolerance-budget allocation

חשב מעטפת החזרה פנימית מלאה, רוחב-סרט זוויתי של סריג in-coupling ושדה ראייה מתקבל עבור מובל גל אופטי שטוח.

TIR envelope, grating coupling bandwidth, mono/achromatic FOV

בהינתן סרט אורך גל יעד, מצא עוביי שכבות שממזערים החזרה ממוצעת, מתוך ספריית החומרים של Kriya.

Differential evolution optimiser over TMM forward model

עצב מטא-עדשה מעבירה בלתי-רגישה לקיטוב: צור מפת פאזה רדיאלית, הצע מרווח ננו-עמודות וחזה MTF במישור מוקד.

Hyperbolic phase profile, nanopillar pitch map, focal-plane MTF

חשב את רווח המעבר הדו-כיווני בהוספת ציפוי AR של Kriya לחלון כיסוי LIDAR ב-905, 940 או 1550 ננומטר.

Double-pass transmission gain at 905/940/1550 nm

בהינתן מבנה זיגוג וטעינת חלקיקי ננו של ATO, חשב SHGC, VLT, הפחתת טמפרטורת תא חזויה, הפחתת דרישת אנרגיית מזגן ו — עבור BEV — השפעה על טווח.

SHGC, VLT, cabin ΔT, AC demand, BEV range impact via ATO loading

הערך רווח יעילות קוונטית חיצונית מהוספת שכבת מיצוי / התאמת מקדם של Kriya מעל השכבה הפולטת.

EQE gain from index-matching extraction layer (ray-optics / CPS dipole)

משוואות פרנל אינטראקטיביות: החזרה ופאזה לקיטוב s/p בממשק בודד, כולל מדיות בולעות.

R_s, R_p, phase vs angle for real/complex interface

זווית Brewster ומינימום Brewster מזויף לכל ממשק — הבחנת קיטוב, מקדמי שבירה מרוכבים, משטר זווית קריטית, הקשר תכנון AR.

Brewster + pseudo-Brewster angle, polarisation discrimination, critical-angle regime

כמת את סטיית הצבע הזוויתית ('קשת') של מארז רב-שכבתי כפי שנראית על ידי צופה אנושי, באמצעות קולורימטריית CIE.

CIE 1976 u'v' rainbow index, ΔE₀₀ across angle set

הערך דיוק תכונה לאחר ייבוש עבור תהליך ליתוגרפיית ננו-הטבעה עם שרף Kriya נתון וגיאומטריית יעד.

Post-cure shrinkage, aspect-ratio stability, feature-width limits

בדוק סטטוס רגולטורי של מחלקת פורמולציה מול הגבלות PFAS הנוכחיות ברחבי העולם, עם מעקב תאריך שקיעה.

Global PFAS restriction status per formulation class, sunset tracking

השווה עלות בעלות כוללת למ״ר מצופה בין תהליכי sputter, evaporation, wet-chemical slot-die, gravure ו-Kriya R2R.

Cost/m² comparison: sputter vs evaporation vs wet-chemical vs R2R

מעקב קרניים דו-ממדי דרך מובל גל שטוח: הצג in-coupling, קפיצות TIR, שכפול אישון ו-out-coupling. ראה כיצד RI של הליבה משפיע על גודל eye-box בזמן אמת.

2D ray trace: in-coupler → TIR bounces → out-coupler, eye-box uniformity

ממדל מארז מובל גל 3-צבעים (R/G/B) עם שכבות מובל גל נפרדות, תקופות סריג שונות וציפוי חיצוני משותף. חשב FOV לכל ערוץ ו-cross-talk בין-שכבתי.

3-channel RGB waveguide stack: per-channel FOV, cross-talk, cladding design

מעקב קרניים Monte Carlo בתוך מארז OLED או microLED: פלוט קרניים אקראיות ממקור דיפול, עקוב דרך שכבות עם TIR ושבירה, ספור מה בורח.

Monte Carlo 2D ray trace: dipole emission, TIR, extraction efficiency vs RI

סימולציית תאורת תאורה אחורית עם קישור קצה: התפשטות קרניים דרך לוח מוליך אור עם תכונות מיצוי, חישוב אחידות בהירות על פני הפאנל.

Edge-lit light guide: ray propagation, extraction features, luminance uniformity

עצב ציפויי מקדם שבירה נמוך מעקרונות ראשונים: גיאומטריית חלקיקי ננו של כדורים חלולים (עובי מעטפת, קוטר, צפיפות אריזה) קובעת את ה-RI האפקטיבי באמצעות תאוריית מדיה אפקטיבית דו-שכבתית.

Hollow-sphere geometry → RI via two-level Maxwell-Garnett effective medium

המר יעד עובי סרט יבש לצריכת ציפוי רטוב, כיסוי ק״ג ועלות ב-€/מ״ר. הוסף גיאומטריית גליל כדי לתאם ביקוש חודשי והזמנה מינימלית.

Coverage (m²/kg), €/m², per-roll consumption from price, dry thickness, geometry

הערך עובי סרט יבש, אובדן נפחי וגורם הגדלת צפיפות מכיווץ ייבוש של משפחת הכימיה שנבחרה.

Predict dry thickness, volume loss, and density rise from cure shrinkage.

תרגם pot life מ-datasheet בטמפרטורת ייחוס לחלון עבודה מציאותי בטמפרטורת החנות הנוכחית באמצעות קינטיקת Arrhenius.

Convert datasheet pot life across temperatures with Arrhenius kinetics.

בדוק האם אורך תנור, מהירות קו וטמפרטורה נותנים לסרט הרטוב מספיק שהות לייבש, סימון תת-ייבוש כאשר זמן שהות יורד מתחת להערכת דיפוזיה.

Compare oven dwell to a thickness-based drying-time estimate.

חזה עובי סרט רטוב מהגדרות applicator: Mayer bar, slot-die, gravure או spin coating.

Predict wet film thickness from Mayer, slot-die, gravure, or spin settings.

הגדר מתח רשת בטוח לסרטי פולימר דקים ורדיד אלומיניום מחוזק מתיחה של מצע, חתך רוחב וגורם בטיחות שנבחר.

Calculate safe web tension from substrate strength, geometry, and safety factor.

מצא את חמשת מוצרי Kriya הקרובים ביותר שתואמים למפרט פונקציה/מצע/יישום/RI.

Match a function/substrate/application spec to the Kriya catalogue.

הגדר מטריצת דגימה (מוצר, מצע, עובי, גודל צלחת, כמות) לפני יצירת קשר עם מכירות.

Build a Kriya sample request matrix in 30 seconds.

בנה השוואה פנים אל פנים של עד שלושה מוצרי Kriya בתוספת חלופות מותאמות, ניתן לייצוא כ-Markdown.

Compare Kriya products against custom alternatives, export Markdown.

צור תצוגה מקדימה של גיליון נתונים טכני להדפסה לכל מוצר Kriya.

Generate a printable TDS preview from any Kriya product.

ממדל את המקרה הפיננסי לפיילוט Kriya — חיסכון מצטבר, נקודת איזון ו-ROI ל-12 חודשים.

Pilot ROI: cumulative savings, breakeven, 12-month projected ROI.

טריאז' של שילובי מנורה/photoinitiator מול חפיפה ספקטרלית לפני פורמולציה.

Match lamp emission peaks against photoinitiator absorption to rule out poor combinations early.

חזה צמיגות תרחיף ומשטר זרימה מטעינת מוצקים.

Krieger–Dougherty estimate of relative viscosity, absolute viscosity, and flow regime from solids loading.

טריאז' של פגמי ציפוי לגורמי שורש מדורגים ופעולות מתקנות.

Pick a defect, see the three most likely root causes with priors and concrete next-step actions.

מפה ברק יעד של 60° לדרגת AG עם haze, צלילות ו-DOI צפויים.

Pick AG grade by target gloss with predicted haze, clarity, and DOI.

הקף Δb* הצהבה ארוכת-טווח עבור מצע ואסטרטגיית מייצב.

Square-root dose estimate of Δb* yellowing from substrate, UV exposure, and stabiliser package.

סמן חובות גילוי לפי סעיף 33 מרשימת חומרים של ציפוי.

ECHA SVHC Candidate List screen for Article 33 communication.

הערך פליטת VOC שנתית והשווה לספי EU IED.

Annual VOC tonnage with EU IED 2010/75/EU benchmark.

ארוז הזמנות של גלילים חתוכים למספר המינימלי של גלילי אב.

First-Fit-Decreasing slit packing across master rolls.

המר גיאומטריית גליל ברוטו לשטח נקי הניתן למשלוח.

Net-area yield with four-bucket loss attribution.

צבור מדדים של סרט רב-שכבתי מרשימת חומרים של שכבה.

Multi-layer film thickness, weight, transmission, mean RI.

חזה מקדם שבירה אפקטיבי של ציפויים מורכבים או נקבוביים באמצעות שלושה כללי ערבוב קלאסיים.

Composite & porous coating index from constituents and volume fraction.

בחר את שכבת התאמת המקדם האופטימלית בין זכוכית כיסוי למארז מקטב לוח הצג.

Index-match cover glass to display panel — RI bucket → Kriya family.

עצב מארז דיכרואי HRI/LRI רבע-גל לחתך IR או נראה נבחר.

Quarter-wave HL stack: pairs, layer thicknesses, total thickness for IR/visible cutoff.

הערך Δn ו-retardance אופטי מושרי-מתח בסרטי פולימר.

Stress-optic Δn and retardance for PET/TAC/PMMA/PC films.

מודד גיאומטריית לוברים למסנני פרטיות או תשומת לב לנהג.

Louvre height, aspect, and transmission for a target privacy angle.

התאם מקדם שבירה n(λ), דעיכה k(λ) ועובי d מנתוני Ψ, Δ של אליפסומטריה ספקטרוסקופית. זווית יחידה או רב-זווית.

Cauchy + Urbach dispersion fit to Ψ, Δ; single- or multi-angle

מייעל אבולוציה דיפרנציאלית עם N סרטי יעד עצמאיים: AR + מראה + notch בו-זמנית, כל אחד משוקלל באופן עצמאי.

DE/rand/1/bin over N independent target bands; AR + mirror + notch

פאזה ספקטרלית, השהיית קבוצה ופיזור השהיית קבוצה של ציפויים רב-שכבתיים. למראות של פולסים אולטרה-קצרים ולציפויי AR רחבי-סרט על לייזרים.

φ(λ), group delay, GDD from complex r/t amplitude; phase unwrapped

בהינתן T(λ) ו/או R(λ) נמדד של מארז לא ידוע, חפש את רצף השכבות + עוביים + חומרים שמשחזרים אותו.

DE search over candidate-material palette + N layers; top-3 stacks

חשב מתח סרט דו-כיווני שווה מרדיוס עקמומיות של מצע נמדד, או חזה עיוות פרוסה מתקבל למתח יעד. 12 חומרי מצע.

σ_f = E·t_s²/(6(1−ν)·t_f·R); 12 substrates; σ↔R bidirectional