Swanepoel 包络分析仪
从镀膜薄膜透射光谱及裸基底参考光谱中提取折射率 n(λ)、消光系数 k(λ) 与物理厚度 d，包含内部推导的低折射率（n < s）分支解析解，适用于多孔二氧化硅 LRI 涂层。
验证：人工核验示例 → /validation#swanepoel
导入两条透射光谱（裸基底与镀膜薄膜），工具将提取薄膜与基底的柯西色散、物理厚度 d 及消光系数——采用 Swanepoel 包络法。支持标准高折射率区间（n > s）及低折射率（LRI）区间（教材 Swanepoel 公式在该区间失效）。科学计算核心为 Python 参考实现的 TypeScript 移植版，跨语言一致性在每次 CI 运行时强制校验。