TMM 薄膜反射率模擬器

使用特徵矩陣(傳輸矩陣)方法計算任意多層光學疊層的反射率與透射率。

基於完整的傳輸矩陣法物理原理設計與分析多層薄膜塗層。可從 Kriya 材料庫構建疊層,或自定義輸入折射率。計算波長與角度下的 R、T、A 光譜,在 D65 光源下視覺化反射顏色,並匯出結果用於進一步分析。