TMM 薄膜反射率模拟器

使用特征矩阵(传输矩阵)方法计算任意多层光学叠层的反射率与透射率。

基于完整的传输矩阵法物理原理设计与分析多层薄膜涂层。可从 Kriya 材料库构建叠层,或自定义输入折射率。计算波长与角度下的 R、T、A 光谱,在 D65 光源下可视化反射颜色,并导出结果用于进一步分析。