מעצב מחסנית ציפויים

עצב מחסניות ציפוי Anti-reflective רב-שכבתיות באמצעות פלטפורמת הננו-חלקיקים PFAS-free של Kriya. צפה בספקטרי Reflectance ו-Transmittance בזמן אמת, המחושבים באמצעות Transfer Matrix Method.

תצורות קבועות מראש

מצע

מדד השבירה של פולימרים משתנה עם המתגבשות, יחס המשיכה והאורך גל (למשל PET 1.57–1.66, PC 1.58–1.59). ערכי ברירת המחדל המוצגים הם ערכי קונצנזוס Kriya עבור דרגות חצי-גבישיות טיפוסיות. השתמש ב־מותאם אישיתכדי להזין את ה-n המדוד שלך.

שכבות ציפוי(מלמעלה למטה)

1. LRI
2. HRI

הוסף שכבה:

חתך רוחב של מחסנית

אוויר (n=1.00)LRI n=1.25 110 nmHRI n=1.80 15 nmזכוכית (BK7) n=1.52
השתקפות ממוצעת (380–780 nm)0.33%
VLT99.7%
R מינימלי0.036%@ 490 nm
צבע מוחזר

ספקטרום החזרה (TMM)

0%1%2%3%4%400500550600700אורך גל (nm)החזרה (%)

ספקטרום שקיפות

96%97%98%99%100%אורך גל (nm)שקיפות (%)

מתודולוגיה

Transfer Matrix Method (TMM) מלא בפגיעה נורמלית. כל שכבה תורמת מטריצת מאפיין 2×2 M עם עובי פאזה δ = 2πnd/λ. מטריצת המערכת הכוללת היא המכפלה הסדורה של כל מטריצות השכבות. החזרה R = |r|² מחושבת ממקדם Fresnel reflection. פיזור הסובסטרט מתאר מודל Cauchy: n(λ) = A + B/λ² + C/λ⁴. קירוב דיאלקטרי לא-בולע (T = 1 − R). ממוצע פוטופי משוקלל משתמש בפונקציית הלומינוסיות CIE V(λ).

מגבלות המודל

  • —ה-Refractive index של הציפויים הם ערכים נומינליים ב-550 nm. מקדמי Cauchy dispersion אמיתיים זמינים מ-Kriya.
  • —נורמל לכניסה בלבד (θ = 0°). לעיצוב Anti-reflective בכניסה אלכסונית, השתמש ב-TMM Simulator.
  • —מודל דיאלקטרי ללא בליעה (k=0). בליעת UV סמוך לקצה הפס אינה מיוצגת.
  • —Dispersion של המצע משתמש במודל Cauchy; שכבות הציפוי משתמשות ב-Refractive index קבוע.

לחישובים קריטיים לייצור, צרו קשר עם Kriya Materials עם הדרישות הספציפיות שלכם. אנו מספקים נתונים אופטיים מדודים ותמיכת סימולציה מאומתת.